Das DQA 775 dient zur Messung von Durchlassspannungen und Gate-Ladungen, sowie zum Testen des Avalanche-Verhaltens von MOSFETs.

Zur Ermittlung der Durchlassspannung wird der Prüfling mit dem eingestellten Stromimpuls betrieben. Während der letzten Millisekunde vor Impulsende wird der Spannungsabfall gemessen und anschließend über die Schnittstelle zur Verfügung gestellt. Der Prüfstrom wird dabei aus einer Kondensatorbatterie im Gerät entnommen.

Zur Ermittlung der Gate-Ladung wird zwischen Drain und Source des zu sperrenden Prüflings eine einstellbare Leerlaufspannung angelegt. Das Gate wird von einer einstellbaren Start-Spannung anschließend mit einem konstanten Strom bis zum Erreichen einer Endspannung geladen. Dabei werden die Gate-Source- und Drain-Source-Spannungen aufgezeichnet. Die Gate-Drain Ladung wird durch Messung der Dauer des Miller-Plateaus bestimmt.

Ab Firmware Version V2.3 besteht die Möglichkeit, die Gate-Ladung des Prüflings nicht nur anhand des Miller-Plateaus berechnen zu lassen, sondern als Messbereich zwei Gate-Spannungen vorzugeben, innerhalb deren Bereich die Ladungsmessung stattfindet.

Für die Durchführung des Avalanche-Tests wird zunächst das Gate des Prüflings angesteuert. Eine Spule mit der Induktivität L=50 µH in Reihe zum Prüfling wird auf einen Maximalstromwert aufgeladen. Ist dieser erreicht, wird das Gate des Prüflings abgeschaltet. Die geladene Spule gibt ihre Energie an den Prüfling ab, wodurch dieser in den Avalanche-Zustand gelangt. Während des Tests werden die Verläufe von Kollektor-Strom und Kollektor-Emitter-Spannung aufgezeichnet.

Als Messergebnisse des Avalanche-Tests werden die maximal aufgetretene Avalanche-Spannung und die Dauer des Avalanches als 50%-Werte der Maximalspannung wiedergegeben.