TLW 739 - Lastwechselprüfstand für Module
- Thermische Langzeituntersuchungen zum Verhalten von Dioden, IGBT- und MOSFET-Modulen
- Lebensdauertest in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Rth-Veränderungen während der Bauteillebensdauer
- Qualifizierung von Bond- und Lötverfahren
- Produktqualifikation nach AQG 324
- Laststromerzeugung bis 1.100 A bei max. 18 V
- Impulsdauer von 0,5 bis 300 s
- 3 Messstromquellen bis max. 200 mA (opt. 3.000 mA)
- 18 Messkanäle für Temperaturdioden mit bis zu 2 mA Messstrom (mit Thermoelement Typ K)
- Automatische Aufnahme von DUT-Temperaturkennlinien
- Temperaturmessung an 18 Prüfplätzen und 6 Strangtemperaturen
- Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen und Aufzeichnung der Daten
- Inkl. Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse
- Mit integriertem Industrie-PC zur Datensicherung und Auswertung
- Diverse Überwachungsfunktionen mit Warn- und Abschaltgrenzen
Merkmale
Mit Hilfe des Testsystems TLW 739 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht werden.
Bei diesem Test wird ein hoher Durchlassstrom abwechselnd ein- und ausgeschaltet, so dass sich periodisch hohe Änderungen der Temperatur und des Temperaturgradienten im Inneren des Testobjekts ergeben.
Bei langer Dauer dieser Beanspruchung können sich am Halbleiterelement Veränderungen ergeben, die sich im Durchlassspannungsabfall, im inneren Wärmewiderstand und im Verlust der Gate- Steuerbarkeit äußern (Beschädigung der Lötung, Lösung von Bondungen).
Die Bedienung erfolgt über einen integrierten PC, der über eine Netzwerkschnittstelle mit der SPS- Steuerung als zentrale Steuerung der Anlage verbunden ist.