TLW 763 - Lastwechselprüfstand
- Lebensdauertest in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Rth-Veränderungen während der Bauteillebensdauer
- Qualifizierung von Bond- und Lötverfahren
- Bauteilqualifizierung nach AQG 324
- Laststromerzeugung bis 1.000 A
- 18 Messstellen, angeordnet in drei Strängen mit je 6 Prüflingen
- Messstromquelle bis max. 1.000 mA, zur Ermittlung der Halbleitertemperaturen, inklusive automatischer Kalibrierkurvenermittlung
- Temperaturmessung an 18 Prüfplätzen und 3 Strangmessplätzen
- Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen, Aufzeichnung der Daten und Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse
- Optional Aufzeichnung von Abkühlkurven und ZTH-Messung
- Schutzhaube mit Sicherheitszuhaltung
Merkmale
Mit Hilfe des Testsystems TLW 763 kann das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht werden.
Bei diesem Test wird ein hoher Durchlassstrom abwechselnd ein- und ausgeschaltet, so dass sich periodisch hohe Änderungen der Temperatur und des Temperaturgradienten im Inneren des Testobjekts ergeben.
Bei langer Dauer dieser Beanspruchung können sich am Halbleiterelement Veränderungen ergeben, die sich im Durchlassspannungsabfall, im inneren Wärmewiderstand und im Verlust der Gate- Steuerbarkeit äußern (Beschädigung der Lötung, Lösung von Bondungen).
Die Bedienung der Anlage erfolgt ausschließlich über einen integrierten PC, der mit der SPS- Steuerung über eine Netzwerkschnittstelle verbunden ist.
Ein schnelles Eingreifen bei Versuchsunterbrechungen und damit eine Reduzierung der Standzeit der Anlage kann durch die Option, Mails an eine hinterlegte Adresse zu senden, erreicht werden.