TLW 800 - Lastwechselprüfstand
- Lebensdauertest in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Rth-Veränderungen während der Bauteillebensdauer
- Qualifizierung von Bond- und Lötverfahren
- Bauteilqualifizierung nach AQG 324
- Laststromerzeugung bis 800 A
- 36 Messstellen, angeordnet in drei Strängen mit je 12 Prüflingen
- Messstromquelle bis max. 500 mA
- 18 Prüfplätze mit Heiz- und Kühlplatte, angeordnet in drei Strängen mit je 6 Prüflingen
- Zulässige max. Temperatur 200°C
- 36 Thermoelementeingänge (je zwei pro Prüfplatz)
- 3 Kühlanlagen, jeder Strang individuell regelbar
- Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen und
- Aufzeichnung der Daten
- inkl. Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse
Merkmale
Mit Hilfe des Testsystems TLW 800 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht werden.
Bei diesem Test wird ein hoher Durchlassstrom abwechselnd ein- und ausgeschaltet, so dass sich periodisch hohe Änderungen der Temperatur und des Temperaturgradienten im Inneren des Testobjekts ergeben.
Bei langer Dauer dieser Beanspruchung können sich am Halbleiterelement Veränderungen ergeben, die sich im Durchlassspannungsabfall, im inneren Wärmewiderstand und im Verlust der Gate- Steuerbarkeit äußern (Beschädigung der Lötung, Lösung von Bondungen).
Die Bedienung der Anlage erfolgt ausschließlich über einen integrierten PC, der mit der SPS- Steuerung über eine Netzwerkschnittstelle verbunden ist.
Ein schnelles Eingreifen bei Versuchsunterbrechungen und damit eine Reduzierung der Standzeit der Anlage kann durch die Option, Mails an eine hinterlegte Adresse zu senden, erreicht werden.