TLW 820 - Lastwechselprüfstand LoPo
Mit Hilfe des Testsystems TLW 820 soll das Verhalten von MOSFET-, IGBT- Bauteilen und Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...
Lastwechselprüfplatz
TLW 813 - Lastwechselprüfstand
Mit Hilfe des Testsystems TLW 813 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...
TLW 800 - Lastwechselprüfstand
Mit Hilfe des Testsystems TLW 800 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...
TLW 763 - Lastwechselprüfstand
Mit Hilfe des Testsystems TLW 763 kann das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...
TLW 739 - Lastwechselprüfstand für Module
Mit Hilfe des Testsystems TLW 739 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...