Das Testsystem STS 805 dient zur Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen.

Dabei stehen 70 frei verwendbare Power- und Sense-Anschlüsse zur Verfügung, die eine...

Mit Hilfe des Testsystems TLW 800 soll das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...

Mit Hilfe des Testsystems TLW 763 kann das Verhalten von IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden bei wechselnder Last und Sperrschichttemperatur der Bauelemente in einem Langzeit-Versuch untersucht...

Mit dem Messsystem TSM 738 können die gängigsten statischen Kenngrößen der meisten Leistungshalbleiter ermittelt werden.

Das System besteht aus bis zu 6 Komponenten und kann je nach...

Das Testsystem STS 717 dient zur Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen.

Das System umfasst bis zu 6 Komponenten und kann je nach Messanforderung in der Zusammenstellung...

Der Gate-Stress-Generator GSG 664 dient zur definierten Belastung von Leistungshalbleitern, speziell IGBTs, mit einem Selektionsimpuls.

Hierzu wird das Gate des Prüflings mit Spannungsimpulsen...

Das TSM 664 dient zur Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen mit bis zu 9 Hochstromanschlüssen. Das System besteht aus bis zu 6 Komponenten und kann je nach Messanforderung...

Das Messgerät für Leistungshalbleiter MLH 634 wurde zur schnellen Prüfung von Leistungshalbleitern entwickelt. Gemessen werden die Sperrspannungseigenschaften sowie der Spannungsabfall in...

Das Leckstrom-Messgerät LCM 625 wurde zur Messung von Gate-Leckströmen an MOS-Transistoren als Serienmessung beim Herstellungsprozess konzipiert.

Zur Beschleunigung der Messung wird dabei die Gate...

Das Prüfsystem TPS 625 bzw. 746 dient der Messung von Leistungshalbleitern.

Mit diesem Messsystem können die gängigsten statischen Kenngrößen der meisten Leistungshalbleiter ermittelt werden.

Das...